Przejdź do głównej treści

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Linie badawcze

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

PHELIX

Linia badawcza PHELIX to linia operująca w zakresie miękkiego promieniowania X, którego źródłem jest eliptycznie polaryzujący undulator. Dzięki zastosowaniu takiego źródła, linia produkuje zarówno liniową, jak i kołową lub eliptyczną polaryzację światła o wysokim natężeniu. Parametry światła linii PHELIX oraz dostępna w stacji końcowej aparatura pozwalają na przeprowadzanie spektroskopowych pomiarów fotoelektronów i absorpcji w warunkach ultra-wysokiej próżni.

Dostępny zakres energetyczny promieniowania (50 – 1500 eV) jest odpowiedni do prowadzenia badań nad wieloma materiałami używanymi np. we współczesnych urządzeniach elektronicznych, nowoczesnych katalizatorach lub ogniwach paliwowych. Stacja badawcza umożliwia pomiary fotoemisji rezonansowej (Resonant Photoemission – Res-PES), dichroizmu kołowego (Circular Dichroism – CD), spektroskopii absorpcyjnej (X-ray Absorption Spectroscopy – XAS) w modzie całkowitej fluorescencji (Total Fluorescence Yield – TFY) oraz pomiaru prądu próbki (Total Electron Yield – TEY). Jednak to, co czyni stację wyjątkową to możliwość mapowania struktury pasmowej w trzech wymiarach wektora falowego k za pomocą kątowo-rozdzielczej spektroskopii fotoelektronów (Soft X-ray Angle Resolved Photoelectron Spectroscopy – SX-ARPES), próbkując orbitalny moment pędu fotoelektronów (Circular Dichroic Angle Resolved Photoelectron Spectroscopy – CD-ARPES) oraz uzyskując bezpośrednią informację o teksturze spinowej dzięki detektorowi spinowemu 3D zintegrowanemu ze spektrometrem fotoelektronów (Spin Resolved Angle Resolved Photoelectron Spectroscopy – SR-ARPES). 

Parametry linii

Parametr Wartość
Źródło Eliptycznie polaryzujący undulator EPU APPLE II
Dostępny zakres energii fotonów 50–2000 eV dla polaryzacji horyzontalnej
50–1500 eV dla polaryzacji wertykalnej
50–350 eV dla polaryzacji kołowej (100%)
50-1035 eV dla polaryzacji eliptycznej (50%)
Energetyczna zdolność rozdzielcza ΔE/E 1x10-4
Rozmiar plamki w miejscu próbki
(poziomy x pionowy)
60 x 160 µm2 
Intensywność promieniowania w miejscu próbki ~1012 ph/s
Polaryzacja Liniowa (horyzontalna, wertykalna), kołowa, eliptyczna
Stacja końcowa
PHELIX – PES/XAS

Obecnie dostępne:
Techniki badawcze: XAS (TEY, TFY), ARPES, XPS, ResPES 
Warunki temperaturowe: 500 – 20 K
Chłodzenie LHe możliwe przez maksimum ok 2.5 dnia pomiarowego w trakcie czasu badawczego (max. 100 L na doświadczenie).

 

W trakcie wdrożenia (obecnie dostępne w trybie eksperckim):
Techniki badawcze: SpinResolved-ARPES

Stacja końcowa
PHELIX—NAP-XPS
W trakcie budowy (planowane udostępnienie 2027)